測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:08-29 2023 來自:祥宇精密
在制造和質量控制過程中,影像測量儀被廣泛用于各種尺寸的測量任務。為了確保測量結果的準確性和重復性,影像測量儀的校準至關重要。
一、校準前的準備
在進行校準之前,需要確保影像測量儀的周圍環(huán)境符合要求。這包括室溫、濕度、空氣流動以及光線等因素。此外,應清潔影像測量儀表面,并確保其位于水平表面上。
二、校準工具的準備
校準工具是用于確定影像測量儀坐標系統(tǒng)原點和幾何元素(如角度、長度)的精確值。這些工具包括標準塊、標準線、標準角度器等。在選擇校準工具時,應確保其精度高、穩(wěn)定性好,以滿足影像測量儀的校準要求。
三、校準步驟
坐標原點的校準
使用標準塊對影像測量儀的原點進行校準。將標準塊放在工作臺上,使其一個側面與X軸和Y軸的坐標原點對齊。然后,使用手動或自動模式移動工作臺,使標準塊的另一側面與坐標原點對齊。重復此步驟,以確保原點的準確性。
幾何元素校準
使用標準塊和標準角度器對影像測量儀的幾何元素進行校準。首先,將標準塊放置在影像測量儀的工作臺上,使其平行于X軸。然后,使用標準角度器確定標準塊與Y軸之間的角度。按照相同的方法,將標準塊旋轉90度,并再次使用標準角度器確定角度。通過比較兩次測量的角度值,可以確定影像測量儀的幾何元素精度。
重復性測試
重復性測試是評估影像測量儀在多次測量同一對象時的一致性。使用標準塊進行重復性測試,將標準塊放在工作臺上,并記錄其尺寸。然后,多次重復測量該標準塊,并比較結果。如果結果在可接受的誤差范圍內,則可以認為影像測量儀的重復性良好。
四、校準周期
影像測量儀的校準周期取決于使用頻率和環(huán)境條件。一般來說,建議每季度進行一次校準。如果影像測量儀在使用過程中出現(xiàn)異?;驌p壞,應及時進行校準以驗證其準確性。
總之,校準是確保影像測量儀精確測量的關鍵步驟。通過按照正確的校準方法和步驟進行操作,可以確保影像測量儀的準確性,從而提高制造和質量控制工作的效率和質量。