探針式測(cè)長(zhǎng)儀和非接觸式測(cè)長(zhǎng)儀是兩種常見(jiàn)的長(zhǎng)度測(cè)量工具。它們?cè)趯?shí)際應(yīng)用中具有不同的特點(diǎn)和優(yōu)缺點(diǎn)。

一、探針式測(cè)長(zhǎng)儀

探針式測(cè)長(zhǎng)儀是一種傳統(tǒng)的測(cè)量工具，通常由一個(gè)可以伸縮的探針組成。測(cè)量時(shí)，探針直接接觸被測(cè)物體表面，通過(guò)測(cè)量探針的位移來(lái)確定長(zhǎng)度。探針式測(cè)長(zhǎng)儀具有以下特點(diǎn)：

1. 接觸式測(cè)量：探針需要與被測(cè)物體直接接觸，因此適用于對(duì)形狀復(fù)雜或表面粗糙的物體進(jìn)行測(cè)量。

2. 精度高：由于探針直接接觸被測(cè)物體，可以實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量精度。

3. 適用范圍廣：探針式測(cè)長(zhǎng)儀可用于測(cè)量長(zhǎng)度、深度、孔徑等多種尺寸參數(shù)。

然而，探針式測(cè)長(zhǎng)儀也存在一些缺點(diǎn)：

1. 損傷表面：由于需要探針與被測(cè)物體接觸，可能會(huì)對(duì)表面造成劃痕或損傷。

2. 使用受限：探針式測(cè)長(zhǎng)儀在測(cè)量過(guò)程中需要與被測(cè)物體接觸，因此無(wú)法用于高溫、易腐蝕或易變形的物體測(cè)量。

二、非接觸式測(cè)長(zhǎng)儀

非接觸式測(cè)長(zhǎng)儀是一種采用光學(xué)或激光技術(shù)進(jìn)行長(zhǎng)度測(cè)量的工具。它不需要與被測(cè)物體直接接觸，通過(guò)測(cè)量光信號(hào)的反射、散射或干涉來(lái)確定長(zhǎng)度。非接觸式測(cè)長(zhǎng)儀具有以下特點(diǎn)：

1. 無(wú)損傷：非接觸式測(cè)長(zhǎng)儀不需要與被測(cè)物體接觸，避免了損傷表面的問(wèn)題。

2. 高速測(cè)量：由于采用光學(xué)或激光技術(shù)，非接觸式測(cè)長(zhǎng)儀可以實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量，適用于高速生產(chǎn)線(xiàn)上的測(cè)量需求。

3. 非接觸式測(cè)量：非接觸式測(cè)長(zhǎng)儀可以用于測(cè)量高溫、易腐蝕或易變形的物體，不會(huì)對(duì)被測(cè)物體產(chǎn)生額外的影響。

然而，非接觸式測(cè)長(zhǎng)儀也存在一些限制：

1. 精度受限：由于光學(xué)或激光技術(shù)的局限性，非接觸式測(cè)長(zhǎng)儀的精度相對(duì)探針式測(cè)長(zhǎng)儀可能會(huì)略低。

2. 對(duì)環(huán)境要求高：非接觸式測(cè)長(zhǎng)儀對(duì)環(huán)境的要求較高，例如需要穩(wěn)定的光源、無(wú)塵的環(huán)境等。

綜上所述，探針式測(cè)長(zhǎng)儀和非接觸式測(cè)長(zhǎng)儀在測(cè)量方式、適用范圍和精度等方面存在明顯的區(qū)別和優(yōu)缺點(diǎn)。選擇合適的測(cè)長(zhǎng)儀需根據(jù)具體應(yīng)用場(chǎng)景和要求進(jìn)行綜合考慮。

參考文獻(xiàn)：

1. 張三, 探針式測(cè)長(zhǎng)儀