測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復(fù)精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:06-07 2023 來自:祥宇精密
隨著工業(yè)生產(chǎn)的不斷發(fā)展,對于工件尺寸、形狀和位置等參數(shù)的精度要求越來越高。在這種背景下,測量工具得到了廣泛的應(yīng)用,具有較高的測量精度和穩(wěn)定性,被廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)中。本文將從測長儀的原理、測量方法以及應(yīng)用前景等方面對測長儀進(jìn)行探討,以期能夠更好地利用測長儀對工件參數(shù)進(jìn)行全面檢測和測試。如何利用測長儀對工件尺寸、形狀和位置等參數(shù)進(jìn)行全面檢測和測試?
一、測長儀的原理
測長儀是一種通過測量物體長度實(shí)現(xiàn)測量的儀器。它通常由感應(yīng)頭、顯示器、微處理器和控制電路等組成。測長儀的測量原理主要有光學(xué)式、機(jī)械式、電子式和超聲式等多種類型。其中,電子式測長儀由于其精度高、速度快、易于操作等優(yōu)點(diǎn)而受到廣泛關(guān)注。
二、測長儀的測量方法
在使用測長儀進(jìn)行測量時,首先需要根據(jù)被測物體的形狀和尺寸選擇相應(yīng)的探頭。然后將探頭與被測物體接觸,并通過顯示器讀取測量結(jié)果。一般情況下,測長儀可采用絕對式和相對式兩種測量方法。
絕對式測量法是指將探頭放到被測物體上時,測長儀自動將零點(diǎn)歸零,然后再進(jìn)行測量。這種方法適用于單次測量較少的情況。
相對式測量法是指在每次測量前需要手動將工具的零點(diǎn)調(diào)整到刻度盤的零位,使其能夠準(zhǔn)確測量。這種方法可以實(shí)現(xiàn)多次測量,并且保證測量精度。
參考文獻(xiàn):
[1] 李凱. 測長儀在精密檢測中的應(yīng)用[J]. 精密制造技術(shù),2013(4):1-3.
[2] 張永輝. 數(shù)字測量技術(shù)及其發(fā)展趨勢[J]. 機(jī)械設(shè)計與制造,2014(5):107-109.
[3] 王永剛. 測長儀在光學(xué)加工中的應(yīng)用[J]. 光學(xué)儀器,
400-801-9255