測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復(fù)精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:06-06 2023 來自:祥宇精密
在實(shí)際使用測長儀設(shè)備時,我們是否需要考慮環(huán)境溫度、濕度等因素呢?環(huán)境因素對測長儀設(shè)備的精度和穩(wěn)定性都會產(chǎn)生影響,但具體到不同類型的測長儀設(shè)備,影響程度可能會有所不同。
一、環(huán)境因素對測長儀設(shè)備的影響
1 溫度的影響
測長儀設(shè)備的精度和穩(wěn)定性都受制于溫度的影響。一般來說,測長儀設(shè)備的使用溫度應(yīng)該在一定范圍內(nèi),超出這個范圍就可能會產(chǎn)生誤差。例如,某些測長儀設(shè)備的使用溫度范圍為18℃~22℃。如果環(huán)境溫度過高或者過低,就有可能導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確,甚至無法正常工作。溫度過高會使電子元件老化,進(jìn)而影響測長儀設(shè)備的精度和穩(wěn)定性;溫度過低則可能導(dǎo)致某些部件凍結(jié)。
2 濕度的影響
濕度也是影響測長儀設(shè)備的一個重要因素。高濕度環(huán)境下,測長儀設(shè)備易受到潮氣的侵蝕,從而損壞元器件或者引起電路短路。此外,濕度對光學(xué)元件也有影響,特別是對于使用激光干涉法進(jìn)行測量的測長儀設(shè)備來說,高濕度會導(dǎo)致光路中的散射和吸收,進(jìn)而影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
3 磁場的影響
測長儀設(shè)備中一些元器件對磁場比較敏感,例如霍爾元件、磁阻傳感器等,因此強(qiáng)磁場環(huán)境下會對測量結(jié)果產(chǎn)生影響。在實(shí)際使用中,需避開強(qiáng)電磁場環(huán)境并保持良好的接地。
二、測長儀設(shè)備的適用環(huán)境范圍
根據(jù)上述分析,我們可以得出以下結(jié)論:
1. 測長儀設(shè)備需要在一定范圍內(nèi)使用,超出這個范圍就可能會影響精度和穩(wěn)定性,甚至引起設(shè)備損壞。
2. 不同類型的測長儀設(shè)備受不同環(huán)境因素的影響程度可能不同,具體使用前需要查明設(shè)備適用條件。
3. 在實(shí)際使用中,需要注意避開強(qiáng)磁場環(huán)境,并保持良好的接地。
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400-801-9255