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金相顯微鏡
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
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新聞資訊
News
三坐標測量坐標系的建立
時間：02-16 2023 來自：祥宇精密
祥宇小課堂：三坐標測量坐標系的建立方法
1、零件找正。
要先測量平面，找正零件，即確定第一軸線。
選擇垂直于零件軸線的平面。通過技術圖紙上可以得知哪一個面是基準面。
如果沒有指明，測量表面比較好的平面且測點盡可能的均勻分布在整個平面上。測量一個平面至少需要三個點，一般情況可以測量更多的點參與平面的計算。此時得到的平面可以計算平面度。
2、旋轉軸，即確定第二軸向。
在上一步的坐標系下，要將機器的軸向與零件的一個軸向聯(lián)系起來。
此時，可以選擇一個經(jīng)過精加工過的面或是兩個孔組成一條直線。
3、設定原點。
原點處于藍色標記處，它的坐標值為X = 0，Y = 0和 Z = 0。有時它必須從已知的特征進行偏置，軟件能很方便的實現(xiàn)。
設置了零件的正確軸向和原點后一個零件坐標系就建好了。
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